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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱：E4980BL美國KEYSIGHT是德LCR電橋
產(chǎn)品型號：
更新時間：2026-04-22
產(chǎn)品簡介：
美國是德Keysight LCR電橋E4980BL-032 20Hz to 300 kHz with DCR美國是德Keysight LCR電橋E4980BL-052 20Hz to 500 kHz with DCRE4980BL美國KEYSIGHT是德LCR電橋美國是德KEYSIGHT E4980B LCR電橋
產(chǎn)品特性Product characteristics
“精"——上海市先JIN企業(yè)!
“專"——專注工業(yè)測試十六年!
“特"——德國萊茵TUV認(rèn)證供應(yīng)商!
“新"——注冊資本實繳壹仟萬元!實繳資金行業(yè)中居前茅!抗金融風(fēng)險能力強(qiáng)!
E4980BL美國KEYSIGHT是德LCR電橋
E4980BL 20Hz 至 300 kHz 帶直流電阻（DCR）
E4980BL 20Hz至300kHz，帶直流電阻（DCR）測量功能及處理器接口
E4980BL 20Hz 至 500 kHz 帶直流電阻（DCR）
E4980BL 20Hz 至 1 MHz 帶直流電阻（DCR）
E4980B 20Hz 至 2 MHz 帶直流電阻（DCR）
頻率20 Hz 至 300 kHz/500 kHz/1 MHz，在任何量程內(nèi)均具備四位分辨率
0.05%的基本精度，在低阻抗和高阻抗條件下均具備優(yōu)良的測量重復(fù)性
100 微伏至 2 伏均方根；1 微安至 20 毫安可變測試信號
直流偏壓 1.5 / 2 V
自動電平控制
直流電阻
201點列表測量掃描
多功能PC連接（局域網(wǎng)、USB和GPIB）
頻率可升級性
是德科技E4980BL精密LCR表是一款行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的LCR測量儀，集精度、速度與多功能性于一體，適用于廣泛的元件測量。其可選的頻率升級方案為用戶提供了強(qiáng)有力的投資選擇和資產(chǎn)利用率提升方案。
E4980BL基礎(chǔ) 適用于組件和材料的常規(guī)研發(fā)及制造測試，在低阻抗和高阻抗范圍內(nèi)均能提供快速測量速度和優(yōu)良性能。
多功能的局域網(wǎng)、USB和GPIB PC連接功能可提升您的設(shè)計與測試效率。在材料測量方面，E4980BL與是德N1500A-005/006材料測量套件配合使用，可簡化從夾具設(shè)置到報告生成的整個流程。
測量參數(shù)
– Cp-D、 Cp-Q、 Cp-G、 Cp-Rp
– Cs-D、 Cs-Q、 Cs-Rs
– Lp-D、 Lp-Q、 Lp-G、 Lp-Rp、 Lp-Rdc
– Ls-D、 Ls-Q、 Ls-Rs、 Ls-Rdc
– R-X
– Z-qd、 Z-qr
– G-B
– Y-qd、 Y-qr
– Vdc-Idc1
定義
Cp 通過并聯(lián)等效電路模型測得的電容值
Cs 通過串聯(lián)等效電路模型測得的電容值
Lp 通過并聯(lián)等效電路模型測得的電感值
Ls 通過串聯(lián)等效電路模型測得的電感值
D 損耗因數(shù)
Q 品質(zhì)因數(shù)（D 的倒數(shù)）
G 通過并聯(lián)等效電路模型測得的等效并聯(lián)電導(dǎo)
Rp 通過并聯(lián)等效電路模型測得的等效并聯(lián)電阻
Rs 通過串聯(lián)等效電路模型測得的等效串聯(lián)電阻
Rdc 直流電阻
R 電阻
X 電抗
Z 阻抗
Y 導(dǎo)納
qd 阻抗/導(dǎo)納相位角（角度）
qr 阻抗/導(dǎo)納相位角（弧度）
B 電納
Vdc 直流電壓
Idc 直流電流
偏差測量功能： 參考值偏差以及參考值偏差百分比可以作為結(jié)果輸出。
測量等效電路： 并聯(lián)、串聯(lián)
阻抗范圍選擇： 自動（自動范圍模式）、手動（保持范圍模式）
觸發(fā)模式： 內(nèi)部觸發(fā)（ INT）、手動觸發(fā)（ MAN）、外部觸發(fā)（ EXT）、 GPIB 觸發(fā)（BUS）
E4980BL美國KEYSIGHT是德LCR電橋基本技術(shù)指標(biāo)
1. 觸發(fā)時延范圍 0 s - 999 s
分辨率 100 µs (0 s - 100 s)
1 ms (100 s - 999 s)
表 2. 階躍時延
范圍 0 s - 999 s
分辨率 100 µs (0 s - 100 s)
1 ms (100 s - 999 s)
測量端子： 四端子對
測試線纜長度： 0 m、 1 m、 2 m、 4 m
測量時間模式：短時間（SHORT）模式、中等長度時間（MED）模式、長時間（LONG）模式。
表 3. 平均值
范圍 1 - 256 次測量
分辨率 1
測試信號
表 4. 測試頻率
測試頻率 20 Hz - 2 MHz (E4980B)
20 Hz - 1 MHz (E4980BL-102)
20 Hz - 500 kHz (E4980BL-052)
20 Hz - 300 kHz (E4980BL-032)
分辨率 0.01 Hz (20 Hz - 99.99 Hz)
0.1 Hz (100 Hz - 999.9 Hz)
1 Hz (1 kHz - 9.999 kHz)
10 Hz (10 kHz - 99.99 kHz)
100 Hz (100 kHz - 999.9 kHz)
1 kHz (1 MHz - 2 MHz)
測量精度 ±0.01%
表 5. 測試信號模式
常規(guī) 在測量端子開路或短路時，程序分別選擇的電壓或電流。
恒定 無論被測器件阻抗如何變化，均在被測器件上維持選定的電壓或電流。
表 6. 測試信號電壓
范圍 0 Vrms - 2.0 Vrms
分辨率 100 µVrms (0 Vrms - 0.2 Vrms)
200 µVrms (0.2 Vrms - 0.5 Vrms)
500 µVrms (0.5 Vrms - 1 Vrms)
1 mVrms (1 Vrms - 2 Vrms)
精度 常規(guī) ±(10% + 1 mVrms) 測試頻率 ≤ 1 MHz：技術(shù)指標(biāo)
測試頻率 > 1 MHz：典型值
恒定1 ±(6% + 1 mVrms) 測試頻率 ≤ 1 MHz：技術(shù)指標(biāo)
測試頻率 > 1 MHz：典型值
表 7. 測試信號電流
范圍 0 Arms - 20 mArms
分辨率 1 µArms (0 Arms - 2 mArms)
2 µArms (2 mArms - 5 mArms)
5 µArms (5 mArms - 10 mArms)
10 µArms (10 mArms - 20 mArms)
精度 常規(guī) ±(10% + 10 µArms) 測試頻率 ≤ 1 MHz：技術(shù)指標(biāo)
測試頻率 > 1 MHz：典型值
恒定1 ±(6% + 10 µArms) 測試頻率 ≤ 1 MHz：技術(shù)指標(biāo)
測試頻率 > 1 MHz：典型值
輸出阻抗： 100 Ω（標(biāo)稱值）
測試信號電平監(jiān)測功能
– 可以監(jiān)測測試信號的電壓和電流。
– 電平監(jiān)測精度：
表 8. 測試信號電壓監(jiān)測精度（Vac）
測試信號電壓2 測試頻率 技術(shù)指標(biāo)
5 mVrms - 2 Vrms ≤ 1 MHz ±（讀數(shù)的 3% + 0.5 mVrms）
> 1 MHz ±（讀數(shù)的 6% + 1 mVrms）
表 9. 測試信號電流監(jiān)測精度（lac）
測試信號電流2 測試頻率 技術(shù)指標(biāo)
50 µArms - 20 mArms ≤ 1 MHz
> 1 MHz
±（讀數(shù)的 3% + 5 µArms）
±（讀數(shù)的 6% + 10 µArms）
1. 當(dāng)自動電平控制功能開啟時。
2. 這不是輸出值，而是顯示的測試信號電平。
表 10 列出了屏幕上可以顯示的測量值范圍。對于有效的測量范圍，參見圖 1 中的阻抗
測量精度示例。
表 10. 允許的測量值顯示范圍
參數(shù) 測量顯示范圍
Cs、 Cp ± 1.000000 aF 至 999.9999 EF
Ls、 Lp ±1.000000 aH 至 999.9999 EH
D ±0.000001 至 9.999999
Q ±0.01 至 99999.99
R、 Rs、 Rp、 X、 Z、 Rdc ±1.000000 a? 至 999.9999 E?
G、 B、 Y ±1.000000 aS 至 999.9999 ES
Vdc ±1.000000 aV 至 999.9999 EV
Idc ±1.000000 aA 至 999.9999 EA
qr ±1.000000 arad 至 3.141593 rad
qd ±0.0001 deg 至 180.0000 deg
?% ±0.0001% 至 999.9999%
a： 1 x 10-18、 E: 1 x 1018
絕對測量精度
絕對精度使用以下方程式來計算。
|Z|、 |Y|、 L、 C、 R、 X、 G、 B 的絕對精度 Aa（當(dāng)Dx ≤ 0.1 時， L、 C、 X 和 B 精度適
用，當(dāng) Qx ≤ 0.1 時， R 和 G 精度適用）
當(dāng) Dx ≥ 0.1，用 Acal 乘以 √1+D2x， 得到 L、 C、 X 和 B 精度
當(dāng) Qx ≥ 0.1，用 Acal 乘以 √1+Q2x ，得到 R 和 G 精度
在交流磁場中，可以使用以下方程式來計算測量精度。
A x (1 + B x ( 2 + 0.5 / Vs))
其中 A 絕對精度
B 磁感應(yīng)強(qiáng)度 [Gauss]
Vs 測試信號電壓電平 [V]
方程式 1： Aa = Ae + Acal
Aa 絕對精度（讀數(shù)的 %）
Ae 相對精度（讀數(shù)的 %）
Acal 校準(zhǔn)精度（%）
其中， G 精度僅適用于 G-B 測量。
D 精度（當(dāng) Dx ≤ 0.1 時）
方程式 2： De +qcal
Dx 測得的 D 值
De D 的相對精度
qcal q 的校準(zhǔn)精度（弧度）
當(dāng) 0.1 < Dx ≤ 1 時，用 qcal 乘以 (1 + Dx)
Q 精度（當(dāng) Qx × Da < 1 時）
方程式 3： (Qx2 × Da)
± ————————————
(1 ± Qx × Da)
Qx 測得的 Q 值
Da D 的絕對精度
q 精度
方程式 4： qe + qcal
qe q 的相對精度（角度）
qcal q 的校準(zhǔn)精度（角度）G 精度（當(dāng) Dx ≤ 0.1 時）
方程式 5： Bx + Da (S)
1
Bx = 2πfCx = ——————
2πfLx
Dx 測得的 D 值
Bx 測得的 B 值 (S)
Da D 的絕對精度
f 測量頻率 (Hz)
Cx 測得的 C 值 (F)
Lx 測得的 L 值 (H)
其中， G 精度適用于 Cp-G 測量。
Rp 的絕對精度（當(dāng) Dx ≤ 0.1 時）
方程式 6： Rpx × Da
±————————— (?)
Dx± Da
Rpx 測得的 Rp 值 (Ω)
Dx 測得的 D 值
Da D 的絕對精度
Rs 的絕對精度（當(dāng) Dx ≤ 0.1 時）
方程式 7： Xx × Da (?)
1
Xx = ——————= 2πfLx
2πfCx
Dx 測得的 D 值
Xx 測得的 X 值 (?)
Da D 的絕對精度
f 測試頻率 (Hz)
Cx 測得的 C 值 (F)
Lx 測得的 L 值 (H)
1. 當(dāng)計算結(jié)果為負(fù)值時，應(yīng)用 0 A。
相對精度
相對精度包括穩(wěn)定度、溫度系數(shù)、線性度、重復(fù)度以及校準(zhǔn)內(nèi)插值誤差。相對精度是在滿足以下所有條件時規(guī)定的：
– 預(yù)熱時間： 30 分鐘
– 測試線纜長度： 0 m、 1 m、 2 m 或 4 m（Keysight 16048A/D/E）
– 沒有顯示“信號源過載"警告。
當(dāng)測試信號電流超過下面表 11 中的值時， LCR 表會顯示“信號源過載"警告。
表 11.
測試信號電壓 測試頻率 條件1
≤ 2 Vrms – –
> 2 Vrms ≤ 1 MHz 110 mA 或 130 mA - 0.0015 × Vac × (Fm / 1 MHz) ×
(L_cable + 0.5)，取較小值
> 1 MHz 70 mA - 0.0015 × Vac × (Fm / 1 MHz) × (L_cable + 0.5)
Vac [V] 測試信號電壓
Fm [Hz] 測試頻率
L_cable [m] 線纜長度
– 已進(jìn)行了開路和短路校正。
– 偏置電流隔離：關(guān)閉
– 直流偏置電流不會超過每個直流偏置電流范圍內(nèi)的設(shè)定值
– 通過將被測器件的阻抗與有效測量范圍匹配，選擇最佳阻抗范圍。
|Z|、 |Y|、 L、 C、 R、 X、 G 和 B 精度（當(dāng) Dx ≤ 0.1 時， L、 C、 X 和 B 精度適用；當(dāng) Qx ≤0.1 時， R 和 G 精度適用）
當(dāng) Dx > 0.1 時，用 Ae 乘以 √1+D2x ，得到 L、 C、 X 和 B 精度
當(dāng) Qx > 0.1 時，用 Ae 乘以 √1+Q2x ，得到 R 和 G 精度
相對精度 Ae 按下式計算：
方程式 8： Ae = [Ab + Zs /|Zm| × 100 + Yo × |Zm| × 100 ] × Kt
Zm 被測器件阻抗
Ab 基本精度
Zs 短路偏置
Yo 開路偏置
Kt 溫度系數(shù)
D 精度
當(dāng) Dx ≤ 0.1 時， D 精度 De 按下式計算：
方程式 9： De = ±Ae/100
Dx 測得的 D 值
Ae |Z|、 |Y|、 L、 C、 R、 X、 G 和 B 的相對精度
當(dāng) 0.1 < Dx ≤ 1 時，用 De 乘以 (1 + Dx)
Q 精度（當(dāng) Q x De < 1 時）
Q 精度 Qe 按下式計算：
方程式 10： (Qx2 × De)
Qe = ± —————————————
(1± Qx × De)
Qx 測得的 Q 值
De 相對 D 精度
q 精度
q 精度 θ e 按下式計算：
方程式 11: 180 × Ae
qe = (deg)
π × 100
Ae |Z|、 |Y|、 L、 C、 R、 X、 G 和 B 的相對精度
G 精度（當(dāng) Dx ≤ 0.1 時）
G 精度 Ge 按下式計算：
方程式 12： Ge = Bx × De (S)
1
Bx = 2πfCx = ——————
2πfLx
Ge G 相對精度
Dx 測得的 D 值
Bx 測得的 B 值
De D 相對精度
f 測試頻率 (Hz)
Cx 測得的 C 值 (F)
Lx 測得的 L 值 (H)
Rp 精度（當(dāng) Dx ≤ 0.1 時）
Rp 精度 Rpe 按下式計算：
方程式 13： Rpx × De (?)
Rpe = ± ———————————
Dx ± De
Rpe Rp 相對精度
Rpx 測得的 Rp 值 (?)
Dx 測得的 D 值
De D 的相對精度
Rs 精度（當(dāng) Dx ≤ 0.1 時）
Rs 精度 Rse 按下式計算：
方程式 14： Rse = Xx × De (?)
1
Xx = —————–—= 2πfLx
2πfCx
Rse Rs 的相對精度
Dx 測得的 D 值
Xx 測得的 X 值 (?)
De D 的相對精度
f 測試頻率 (Hz)
Cx 測得的 C 值 (F)
Lx 測得的L 值 (H)
C-D 精度計算示例
測量條件
測試頻率： 1 kHz
測得的 C 值： 100 nF
測試信號電壓： 1 Vrms
測量時間模式： MED
測量溫度： 23°C
Ab = 0.05%
|Zm| = 1 / (2π × 1 × 103 × 100 × 10-9) = 1590 ?
Zs = 0.6 m? × (1 + 0.400/1) × (1 + √(1000/1000) = 1.68 m?
Yo = 0.5 nS × (1 + 0.100/1) × (1 + √(100/1000) = 0.72 nS
C 精度： Ae = [0.05 + 1.68 m/1590 × 100 + 0.72 n × 1590 × 100] × 1 = 0.05%
D 精度： De = 0.05/100 = 0.0005
被測器件阻抗的效應(yīng)
表 14. 被測器件阻抗低于 30 Ω 時，添加以下值。
測試頻率 [Hz] 被測器件阻抗
1.08 Ω ≤ |Zx| < 30 Ω |Zx| < 1.08 Ω
20 - 1 M 0.05% 0.10%
1 M - 2 M 0.10% 0.20%
表 15. 被測器件阻抗高于 9.2 k Ω 時，添加以下值。
測試頻率 [Hz] 被測器件的阻抗
9.2 kΩ < |Zx| ≤ 92 kΩ 92 kΩ < |Zx|
10 k - 100 k 0% 0.05%
100 k - 1 M 0.05% 0.05%
1 M - 2 M 0.10% 0.10%
電纜延長的效應(yīng)
當(dāng)電纜延長時，每一米增加以下元素。
0.015 % × (Fm/1 MHz)2 × (L_cable)2
Fm [Hz] 測試頻率
L_cable [m] 電纜長度
短路偏置 Zs
表 16. 被測器件阻抗 > 1.08 ?
測試
頻率 [Hz]
測量時間模式
SHORT MED、 LONG
20 - 2 M 2.5 m? × (1 + 0.400/Vs) ×
(1 + √(1000/Fm))
0.6 mΩ × (1 + 0.400/Vs) ×
(1 + √(1000/Fm))
表 17. 被測器件阻抗 ≤ 1.08 ?
測試
頻率 [Hz]
測量時間模式
SHORT MED、 LONG
20 - 2 M 1 m? × (1 + 1/Vs) × (1 + √(1000/Fm)) 0.2 m?× (1 + 1/Vs)× (1 + √(1000/Fm))
Vs [Vrms] 測試信號電壓
Fm [Hz] 測試頻率
電纜延長的效應(yīng)（短路偏置）
表 18. 當(dāng)電纜延長后， Zs 增加以下值（與測量時間模式無關(guān)）。
測試
頻率 [Hz]
電纜長度
0 米 1 米 2 米 4 米
20 - 1 M 0 0.25 m? 0.5 m? 1 m?
1 M - 2 M 0 1 m? 2 m? 4 m?
開路偏置 Yo
表 19. 測試信號電壓 ≤ 2.0 Vrms
測試
頻率 [Hz]
測量時間模式
SHORT MED、 LONG
20 - 100 k 2 nS × (1 + 0.100/Vs) × (1 + √(100/Fm)) 0.5 nS × (1 + 0.100/Vs) × (1 + √(100/Fm))
100 k - 1 M 20 nS × (1 + 0.100/Vs) 5 nS × (1 + 0.100/Vs)
1 M - 2 M 40 nS × (1 + 0.100/Vs) 10 nS × (1 + 0.100/Vs)
表 20. 測試信號電壓 > 2.0 Vrms
測試
頻率 [Hz]
測量時間模式
SHORT MED、 LONG
測量精度
下面的阻抗測量計算示例是絕對測量精度的結(jié)果。
圖 1. 阻抗測量精度（測試信號電壓 = 1 Vrms，電纜長度 = 0 米，測量時間模式 = MED）
補償功能
表 28. E4980A 提供了三種補償功能：開路補償、短路補償和負(fù)載補償。
補償類型 描述
開路補償 補償測試夾具的雜散導(dǎo)納（C, G）導(dǎo)致的誤差。
短路補償 補償測試夾具的剩余阻抗（L, R）導(dǎo)致的誤差。
負(fù)載補償 補償用戶所需的測量條件下實際測量值與已知標(biāo)準(zhǔn)值之間的誤差。
列表掃描
點數(shù)： 最大點數(shù)為 201 點。
第一個掃描參數(shù)（一次參數(shù)）： 測試頻率、測試信號電壓、測試信號電流、直流偏置信號的測試信號電壓、直流偏置信號的測試信號電流、直流電源電壓。
第二個掃描參數(shù)（二次參數(shù)）： 無、阻抗范圍、測試頻率、測試信號頻率、測試信號電壓、測試信號電流、直流偏置信號的測試信號電壓、直流偏置信號的測試信號電流、直流電源電壓
觸發(fā)模式
順序模式： 一旦觸發(fā) E4980A，它會在所有掃描點測量器件。 /EOM/INDEX 只輸出一次。
步進(jìn)模式： 每次觸發(fā) E4980A 時，掃描點都會遞增。在每個點上都會輸出 /EOM/INDEX，但只有在最后一個/EOM 輸出后，列表掃描的比較器功能才會提供結(jié)果。
說明
為兩個參數(shù)中的其中一個擇的參數(shù)無法再為另一個參數(shù)選中。無法設(shè)置測試信號電壓與測試信號電流組合，或直流偏置信號的測試信號電壓與直流偏置信號的測試信號電流組合之一。
二次參數(shù)只能通過 SCPI 命令設(shè)置。
列表掃描的比較器功能： 比較器功能支持為每個測量點設(shè)置一對上下限值。
您可以選擇： 通過第一個掃描參數(shù)進(jìn)行判斷/通過第二個參數(shù)進(jìn)行判斷/不用于每對
限值。
時間戳功能： 在順序模式下，可以將 FW 檢測到觸發(fā)信號的時間定義為 0，以記錄每個
測量點上的測量開始時間，而后通過 SCPI 命令獲取該時間。
比較器功能
Bin 排序： 一次參數(shù)可以排序為 9 個 BIN、 OUT_OF_BINS、 AUX_BIN 和 LOW_C_
REJECT。二次參數(shù)排序為 HIGH、 IN 和 LOW?？梢赃x擇順序模式和容限模式作為分類模式。
限值設(shè)置： 設(shè)置中可以使用絕對值、偏差值 和 % 偏差值。
BIN 計數(shù)： 可從 0 記錄至 999999。
直流偏置信號
表 29. 測試信號電壓
范圍 0 V 至 +2 V
分辨率 僅限 0 V / 1.5 V / 2 V
精度 0.1% + 2 mV (23°C ± 5°C)
(0.1% + 2 mV) × 4
(0 至 18°C 或 28 至 55°C）
輸出阻抗： 100 ?（標(biāo)稱值）
輔助測量功能
數(shù)據(jù)緩存功能： 每個批次最多可以讀取 201 個測量結(jié)果。
保存/調(diào)用功能：
– 可以向內(nèi)置非易失性存儲器中寫入或從其中讀出最多 10 個設(shè)置條件。
– 可以向 USB 存儲器中寫入或從其中讀出最多 10 個設(shè)置條件。
– 在將設(shè)置條件寫入到 USB 存儲器的寄存器 10 時，執(zhí)行自動調(diào)用功能。
按鍵鎖定功能： 可以鎖定前面板按鍵。
GPIB： 引腳 D-Sub（D-24 型），陰頭；符合 IEEE488.1、 2 和 SCPI 標(biāo)準(zhǔn)
USB 主機(jī)端口： 通用串行總線插座， Type-A（4 個觸點位置，觸點 1 位于您的左側(cè)），
陰頭（僅限連接 USB 存儲器）。
USB 接口端口： 通用串行總線插座， Type Mini-B（ 4 個觸點位置）；符合 USBTMC-USB488 和 USB 2.0 標(biāo)準(zhǔn)；陰頭；用于連接外部控制器。
USBTMC： USB 測試與測量分類的縮寫
LAN： 10/100 BaseT 以太網(wǎng)， 8 個引腳（兩個速度選項）
LXI 一致性： C 類（僅適用于固化軟件版本 A.02.00 或更高版本的設(shè)備）
說明
可以使用以下 USB 存儲器。
符合 USB 1.1 標(biāo)準(zhǔn)；大容量存儲器類別，
FAT16/FAT32 格式；最大消耗電流低于 500 mA。
推薦使用的 USB 存儲器： 4 GB USB 閃存
（Keysight PN 1819-0637）和 16GB USB 閃
存（Keysight PN 1819-1235）。
使用專門推薦 E4980A 使用的 USB 存儲器，
否則，以前保存的數(shù)據(jù)可能被清除。如果您沒
有使用推薦的 USB 存儲器，那么數(shù)據(jù)可能無
法正常保存或調(diào)用。
對于因使用 E4980A 導(dǎo)致的 USB 存儲器數(shù)據(jù)丟失，是德科技不承擔(dān)責(zé)任。
頻率選件
E4980A 20 Hz 至 2 MHz
E4980AL-032 20 Hz 至 300 kHz
E4980AL-052 20 Hz 至 500 kHz
E4980AL-102 20 Hz 至 1 MHz
表 30. 可安裝選件
選件 E4980A E4980AL
電源和直流偏置增強(qiáng)（001） 可安裝 不可安裝
DCR 測量（200） 可安裝1 不可安裝2
機(jī)械手接口（201） 可安裝 可安裝
掃描儀接口（301） 可安裝 可安裝
接口選件
選件 201（機(jī)械手接口）
增加機(jī)械手接口。
選件 301（掃描儀接口）
增加掃描儀接口。
選件 710（無接口）
沒有接口的選件。
后面板的接口連接器上最多可以安裝 2 個接口選件。
在不安裝接口時，安裝兩個選件 710。在安裝一個接口時，安裝該選件編號的接口和一
個選件 710。
其他選件
選件 001（電源和直流偏置增強(qiáng)）
增加測試信號的電壓，并增加可變的直流偏置電壓。
選件 007（標(biāo)準(zhǔn)型號）
將入門級型號升級至標(biāo)準(zhǔn)型號（僅適用于 E4980AU）。
選件 200（DCR 測量）
增加 DCR 測量。
1. 必選選件
2. 默認(rèn)配備 DCR 測量功能。
說明
選件 007 只能安裝在配有選件 005 的 E4980A
中。
說明
E4980A-200/001 和 E4980AL-032/052/102支持 DCR 測量功能。
電源和直流偏置增強(qiáng)技術(shù)指標(biāo)
提高測試信號電壓并增加可變直流偏置電壓功能。
Vdc-Idc 測量功能在安裝選件 001 后提供。
測量參數(shù)
可以使用以下參數(shù)。
– Lp-Rdc
– Ls-Rdc
– Vdc-Idc
其中
Rdc 直流電阻（DCR）
Vdc 直流電壓
Idc 直流電流
測試信號
信號電平
表 31. 測試信號電壓
范圍 0 Vrms 至 20 Vrms（測試頻率 ≤ 1 MHz）
0 Vrms 至 15 Vrms（測試頻率 > 1 MHz）
分辨率 100 µVrms (0 Vrms - 0.2 Vrms)
200 µVrms (0.2 Vrms - 0.5 Vrms)
500 µVrms (0.5 Vrms - 1 Vrms)
1 mVrms (1 Vrms - 2 Vrms)
2 mVrms (2 Vrms - 5 Vrms)
5 mVrms (5 Vrms - 10 Vrms)
10 mVrms (10 Vrms - 20 Vrms)
設(shè)置精度 常規(guī) ±(10% + 1 mVrms)（測試信號電壓 ≤ 2 Vrms）
（測試頻率 ≤ 1 MHz：技術(shù)指標(biāo)，測試頻率 > 1 MHz：典型值）
±(10% + 10 mVrms)（測試頻率 ≤ 300 kHz，
測試信號電壓 > 2 Vrms）（技術(shù)指標(biāo)）
±(15% + 20 mVrms)（測試頻率 > 300 kHz，
測試信號電壓 > 2 Vrms）
（測試頻率 ≤ 1 MHz：技術(shù)指標(biāo)，測試頻率 > 1 MHz：典型值）
恒定1 ±(6% + 1 mVrms)（測試信號電壓 ≤ 2 Vrms）
（測試頻率 ≤ 1 MHz：技術(shù)指標(biāo)，測試頻率 > 1 MHz：典型值）
±(6% + 10 mVrms)（測試頻率 ≤ 300 kHz，
測試信號電壓 > 2 Vrms）（技術(shù)指標(biāo)）
±(12% + 20 mVrms)（測試頻率 > 300 kHz，
測試信號電壓 > 2 Vrms）（測試頻率 ≤ 1 MHz：技術(shù)指標(biāo)，
測試頻率 > 1 MHz：典型值）
1. 當(dāng)自動電平控制功能開啟時。
測試信號電流
范圍 0 Arms - 100 mArms
分辨率 1 µArms (0 Arms - 2 mArms)
2 µArms (2 mArms - 5 mArms)
5 µArms (5 mArms - 10 mArms)
10 µArms (10 mArms - 20 mArms)
20 µArms (20 mArms - 50 mArms)
50 µArms (50 mArms - 100 mArms)
設(shè)置精度 常規(guī) ±(10% + 10 µArms)（測試信號電壓 ≤ 20 mArms）
（測試頻率 ≤ 1 MHz：技術(shù)指標(biāo)，測試頻率 > 1 MHz：典型值）
±(10% + 100 µArms)（測試頻率 ≤ 300 kHz，
測試信號電流 > 20 mArms）（技術(shù)指標(biāo)）
±(15% + 200 µArms)（測試頻率 > 300 kHz，
測試信號電壓 > 20 mArms）（測試頻率 ≤ 1 MHz：技術(shù)指標(biāo)，
測試頻率 > 1 MHz：典型值）
恒定1 ±(6% + 10 µArms)（測試信號電壓 ≤ 20 mArms）
（測試頻率 ≤ 1 MHz：技術(shù)指標(biāo)，測試頻率 > 1 MHz：典型值）
±(6% + 100 µArms)（測試頻率 ≤ 300 kHz，
測試信號電壓 > 20 mArms）（技術(shù)指標(biāo)）
±(12% + 200 µArms)（測試頻率 > 300 kHz，
測試信號電壓 > 20 mArms）（測試頻率 ≤ 1 MHz：技術(shù)指標(biāo)，
測試頻率 > 1 MHz：典型值）
測試信號電平監(jiān)測功能
– 可以監(jiān)測測試信號電壓和測試信號電流。
– 電平監(jiān)測精度：
表 33. 測試信號電壓監(jiān)測精度（Vac）
測試信號電壓2 測試頻率 技術(shù)指標(biāo)
5 mVrms 至 2 Vrms ≤ 1 MHz ±（讀數(shù)的 3% + 0.5 mVrms）
> 1MHz ±（讀數(shù)的 6% + 1 mVrms）
> 2 Vrms ≤ 300 kHz ±（讀數(shù)的 3% + 5 mVrms）
> 300 kHz ±（讀數(shù)的 6% + 10 mVrms） 3
表 34. 測試信號電流監(jiān)測精度（Iac）
測試信號電流2 測試頻率 技術(shù)指標(biāo)
50 µArms 至 20 mArms ≤ 1 MHz ±（讀數(shù)的 3% + 5 µArms）
> 1MHz ±（讀數(shù)的 6% + 10 µArms）
> 20 mArms ≤ 300 kHz ±（讀數(shù)的 3% + 50 µArms）
> 300 kHz ±（讀數(shù)的 6% + 100 µArms）
1. 當(dāng)自動電平控制功能開啟時。
2. 這不是輸出值，而是顯示的測試信號電平。
3. 當(dāng) 測試頻率 > 1 MHz 且測試信號電壓 >
10 Vrms 時的典型值。
直流偏置信號
表 35. 測試信號電壓
范圍 –40 V 至 +40 V
分辨率 設(shè)置分辨率： 100 µV，有效分辨率：
330 µV ±(0 V - 5 V)
1 mV ±(5 V - 10 V)
2 mV ±(10 V - 20 V)
5 mV ±(20 V - 40 V)
精度 測試信號電壓 ≤ 2 Vrms 0.1% + 2 mV (23°C ±5°C)
(0.1% + 2 mV) x 4
(0 至 18°C 或 28 至 55°C)
測試信號電壓 > 2 Vrms 0.1 % + 4 mV (23°C ±5°C)
(0.1% + 4 mV) x 4
(0 至 18°C 或 28 至 55°C)
表 36. 測試信號電流
范圍 –100 mA - 100 mA
分辨率 設(shè)置分辨率： 1 µA，有效分辨率：
3.3 µA ±(0 A - 50 mA)
10 µA ±(50 mA - 100 mA)
直流偏置電壓電平監(jiān)測 Vdc
（讀數(shù)的 0.5% + 60 mV） × Kt
在使用 Vdc-Idc 測量時：（技術(shù)指標(biāo)）
在使用電平監(jiān)測時：（典型值）
Kt 溫度系數(shù)
直流偏置電流電平監(jiān)測 Idc
(測量值的 A [%] + B [A]) × Kt
在使用 Vdc-Idc 測量時：（技術(shù)指標(biāo)）
在使用電平監(jiān)測時：（典型值）
A [%] 當(dāng)測量時間模式為 SHORT 時： 2%
當(dāng)測量時間模式為 MED 或 LONG 時： 1%
B [A] 在下面給出
Kt 溫度系數(shù)
當(dāng)測量時間模式為 SHORT 時，以下值翻倍。
測試信號電壓 ≤ 0.2 Vrms（測量時間模式 = MED、 LONG）
直流偏置
電流范圍
阻抗范圍 [Ω]
< 100 100 300, 1 k 3 k, 10 k 30k, 100 k
20 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA 45 nA
200 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA 300 nA
2 mA 150 µA 30 µA 3 µA 3 µA 3 µA
20 mA 150 µA 30 µA 30 µA 30 µA 30 µA
100 mA 150 µA 150 µA 150 µA 150 µA 150 µA
表 38. 0.2 Vrms < 測試信號電壓 ≤ 2 Vrms（測量時間模式 = MED、 LONG）
直流偏置
電流范圍
阻抗范圍 [Ω]
< 100 100, 300 1k, 3 k 10k, 30 k 100 k
20 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA 45 nA
200 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA 300 nA
2 mA 150 µA 30 µA 3 µA 3 µA 3 µA
20 mA 150 µA 30 µA 30 µA 30 µA 30 µA
100 mA 150 µA 150 µA 150 µA 150 µA 150 µA
表 39. 測試信號電壓 > 2 Vrms（測量時間模式 = MED、 LONG）
直流偏置
電流范圍
阻抗范圍 [Ω]
≤ 300 1 k, 3 k 10k, 30 k 100 k
20 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA
200 µA 150 µA 30 µA 3 µA 300 nA
2 mA 150 µA 30 µA 3 µA 3 µA
20 mA 150 µA 30 µA 30 µA 30 µA
100 mA 150 µA 150 µA 150 µA 150 µA
表 40. 輸入阻抗（標(biāo)稱值）
輸入阻抗 條件
0 ? 以下條件除外。
20 ? 測試信號電壓 ≤ 0.2 Vrms，阻抗范圍 ≥ 3 k ?，直流偏置電流范圍 ≤ 200 µA
測試信號電壓 ≤ 2 Vrms，阻抗范圍 ≥ 10 k?，直流偏置電流范圍 ≤ 200 µA
測試信號電壓 > 2 Vrms，阻抗范圍 = 100 k?，直流偏置電流范圍 ≤ 200 µA
直流電源信號
表 41. 測試信號電壓
范圍 –10 V 至 10 V
分辨率 1 mV
精度 0.1% + 3 mV（23 °C ±5 °C）
（0.1% + 3 mV） x 4
（0 至 18 °C 或 28 至 55 °C）
表 42. 測試信號電流
范圍 –45 mA 至 45 mA（標(biāo)稱值）
輸出阻抗
100 ?（標(biāo)稱值）
直流電阻（Rdc）測量功能在安裝 E4980A-001/200 或 E4980AL-032/052/102 后提供。
直流電阻（Rdc）精度
絕對測量精度 Aa
絕對測量精度 Aa 按下式計算
方程式 15: Aa = Ae + Acal
Aa 絕對精度（讀數(shù)的 %）
Ae 相對精度（讀數(shù)的 %）
Acal 校準(zhǔn)精度
相對測量精度 Ae
相對測量精度 Ae 按下式計算
方程式 16： Ae = [Ab + (Rs /|Rm|+ Go × |Rm|) × 100 ] × Kt
Rm 測量值
Ab 基本精度
Rs 短路偏置 [?]
Go 開路偏置 [S]
Kt 溫度系數(shù)
校準(zhǔn)精度 Acal
校準(zhǔn)精度 Acal 為 0.03%。
基本精度 Ab
表 43. 基本精度 Ab 在下面給出。
測量時間模式 測試信號電壓
≤ 2 Vrms > 2 Vrms
SHORT 1.00% 2.00%
MED 0.30% 0.60%
開路偏置 Go
表 44. 開路偏置 Go 在下面給出。
測量時間模式 測試信號電壓
≤ 2 Vrms > 2 Vrms
SHORT 50 nS 500 nS
MED 10 nS 100 nS
短路偏置 Rs
表 45. 短路偏置 Rs 在下面給出。
測量時間模式 測試信號電壓
≤ 2 Vrms > 2 Vrms
SHORT 25 m? 250 m?
MED 5 m? 50 m?
電纜長度的效應(yīng)（短路偏置）
表 46. 當(dāng)電纜延長時， Rs 中增加以下值。
電纜長度
1 米 2 米 4 米
0.25 m? 0.5 m? 1 m?
溫度系數(shù) Kt
表 47. 溫度系數(shù) Kt 在下面給出。
溫度 [° C] Kt
0 - 18 4
18 - 28 1
28 - 55 4
電源
電壓 90 VAC - 264 VAC
頻率 47 Hz - 63 Hz
功耗 最大 150 VA
表 49. 工作環(huán)境
溫度 0 - 55 °C
濕度（≤ 40 °C，無冷凝） 15% - 85% RH
海拔高度 0 米 - 2000 米
表 50. 儲存環(huán)境
溫度 –20 - 70 °C
濕度（≤ 60 °C，無冷凝） 0% - 90% RH
海拔高度 0 米 - 4572 米
外部尺寸： 375（寬度） x 105（高度） × 390（深度）毫米（標(biāo)稱值）
有效像素超過 99.99%。可能有 0.01%（大約 7
個像素）或更少的像素丟失或常亮，但這不是故
障。
圖 6. 尺寸（側(cè)視圖，配有把手和緩沖器，單位是毫米，標(biāo)稱值）
圖 7. 尺寸（側(cè)視圖，不含把手和緩沖器，單位是毫米，標(biāo)稱值）
重量： 5.3 kg（標(biāo)稱值）
顯示屏： LCD， 320 × 240（像素）， RGB 色彩
可以顯示以下項目：
– 測量值
– 測量條件
– 比較器限值和判斷結(jié)果
– 列表掃描表
– 自測消息
補充信息
EMC
歐盟理事會指令 2004/108/EC
IEC 61326-1:2012
EN 61326-1:2013
CISPR 11:2009 +A1:2010
EN 55011: 2009 +A1:2010
第 1 組， A 類
IEC 61000-4-2:2008
EN 61000-4-2:2009
4 kV CD / 8 kV AD
IEC 61000-4-3:2006 +A1:2007 +A2:2010
EN 61000-4-3:2006 +A1:2008 +A2:2010
3 V/m, 80-1000 MHz, 1.4 - 2.0 GHz / 1V/m, 2.0 - 2.7 GHz, 80% AM
IEC 61000-4-4:2004 +A1:2010
EN 61000-4-4:2004 +A1:2010
1 kV 電源線/0.5 kV 信號線
IEC 61000-4-5:2005
EN 61000-4-5:2006
0.5 kV 線間電壓/ 1 kV 線地電壓
IEC 61000-4-6:2008
EN 61000-4-6:2009
3 V, 0.15-80 MHz, 80% AM
IEC 61000-4-8:2009
EN 61000-4-8:2010
30A/m, 50/60Hz
IEC 61000-4-11:2004
EN 61000-4-11:2004
0.5-300 次， 0% / 70%
說明：
除非儀表頻率與發(fā)射的干擾信號測試頻率（載頻周圍的頻率以及調(diào)制頻率周圍的頻率）相同，否則在根據(jù) EN61000-4-3 在 3 V/m 條件下進(jìn)行測量時，測量精度在整個抗干擾度測試頻率范圍內(nèi)都符合技術(shù)指標(biāo)。
ICES/NMB-001 ICES-001: 2006 第 1 組， A 類
AS/NZS CISPR11:2004
第 1 組， A 類
KN11、 KN61000-6-1 和 KN61000-6-2
第 1 組， A 類
安全
歐盟理事會指令 2006/95/EC
IEC 61010-1:2001/EN 61010-1:2001
測量類別 I，污染度 2，室內(nèi)使用
IEC60825-1:1994 1 類 LED
CAN/CSA C22.2 61010-1-04
測量類別 I，污染度 2，室內(nèi)使用
環(huán)境
本產(chǎn)品符合 WEEE 指令（2002/96/EC）標(biāo)識
要求。粘貼此標(biāo)簽即表示請勿將本電氣/電子產(chǎn)品丟棄至生活垃圾中。
產(chǎn)品分類：根據(jù) WEEE
指令附錄 I 中的設(shè)備類型分類，本產(chǎn)品屬于“監(jiān)控儀器"類別。
表 51. 測試頻率設(shè)置時間
測試頻率設(shè)置時間 測試頻率（Fm）
5 ms Fm ≥ 1 kHz
12 ms 1 kHz > Fm ≥ 250 Hz
22 ms 250 Hz > Fm ≥ 60 Hz
42 ms 60 Hz > Fm
表 52. 測試信號電壓設(shè)置時間
測試信號電壓設(shè)置時間 測試頻率（Fm）
11 ms Fm ≥ 1 kHz
18 ms 1 kHz > Fm ≥ 250 Hz
26 ms 250 Hz > Fm ≥ 60 Hz
48 ms 60 Hz > Fm
阻抗量程切換時間在下面給出：
≤ 5 ms/量程切換
測量電路保護(hù)
最大放電耐受電壓在下面給出。該參數(shù)指帶電電容器連接至未知端子時, 內(nèi)部電路的最
大安全電壓值。
表 53. 最大放電耐受電壓
最大放電耐受電壓 被測器件電容值 C 的范圍
1000 V C < 2 µF
√ 2/C V 2 µF ≤ C
補充信息
說明
電容器在連接至未知端子或測試夾具前需先
進(jìn)行放電，以免損壞儀器。
圖 8. 最大放電耐受電壓
———
0
200
400
600
800
1000
1200
1.E–15 1.E–13 1.E–11 1.E–09 1.E–07 1.E–05 1.E–03
電壓 [V]
電容 [F]
定義
這是機(jī)械手接口上觸發(fā)與測量結(jié)束（EOM）輸出之間的時間。
條件
表 54 顯示了滿足以下條件時的測量時間：
– 除 Ls-Rdc、 Lp-Rdc、 Vdc-Idc 以外的常規(guī)阻抗測量
– 阻抗量程模式：保持量程模式
– 直流偏置電壓電平監(jiān)測：關(guān)
– 直流偏置電流電平監(jiān)測：關(guān)
– 觸發(fā)時延： 0 s
– 階躍時延： 0 s
– 校準(zhǔn)數(shù)據(jù)：關(guān)
– 顯示模式：空白
表 54. E4980A 測量時間 [ms]（直流偏置：關(guān)）
測量時間
模式
測試頻率
20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz
1 LONG 480 300 240 230 220 220 220
2 MED 380 180 110 92 89 88 88
3 SHORT 330 100 20 7.7 5.7 5.6 5.6
圖 9. 測量時間（E4980A，直流偏置：關(guān)）
20 100 1k 10k 100k 1M 2M
0.01
0.001
0.1
1
10
測試頻率 [Hz]
測量時間 [秒]
1. 長
2. 中
3. 短
E4980A-005 測量時間 [ms]（直流偏置：關(guān)）
測量時間模式 測試頻率
20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz
1 LONG 1190 650 590 580 570 570 570
2 MED 1150 380 200 180 180 180 180
3 SHORT 1040 240 37 25 23 23 23
圖 10. 測量時間（直流偏置：關(guān)， E4980A-005）
表 56. E4980AL 測量時間 [ms]
測量時間模式 測試頻率
20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz
1 LONG 729 423 363 353 343 343
2 MED 650 250 140 122 119 118
3 SHORT 579 149 26 14 12 12
圖 11. 測量時間（E4980AL）
20 100 1k 10k 100k 1M 2M
0.01
0.001
0.1
1
10
測試頻率 [Hz]
測量時間 [秒]
1. 長
2. 中
3. 短
20 100 1k 10k 100k 1M 2M
0.01
0.001
0.1
1
10
測試頻率 [Hz]
測量時間 [秒]
1. 長
2. 中
3. 短
說明
E4980A-005 已廢型，不可再訂購。
當(dāng)直流偏置開啟時，增加以下時間：
表 57. 當(dāng)直流偏置開啟時增加的時間 [ms]
測試頻率
20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz
30 30 10 13 2 0.5 0.5
當(dāng)平均數(shù)增加時，測量時間按下式計算
方程式 17： MeasTime + (Ave – 1) × AveTime
MeasTime 根據(jù)表 53 和 54 計算的測量時間
Ave 平均數(shù)
AveTime 參見表 56
表 58. 求平均數(shù)時增加的時間 [ms]
測量
時間模式
測試頻率
20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz
SHORT 51 11 2.4 2.3 2.3 2.2 2.2
MED 110 81 88 87 85 84 84
LONG 210 210 220 220 220 210 210
表 59. 當(dāng)選擇 Vdc-Idc 時的測量時間 [ms]
測量時間模式 測試頻率
20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz
SHORT 210 46 14 14 14 14 14
MED 210 170 170 170 170 170 170
LONG 410 410 410 410 410 410 410
每多一次平均，增加相同的測試時間
當(dāng) Vdc 和 Idc 監(jiān)測功能開啟時增加的測量時間。
增加表 59 中的 SHORT 模式。在只使用 Vdc 或 Idc 時，增加表 59 中 Short 模式的一半時
間。
表 60. 當(dāng)選擇 Ls-Rdc 或 Lp-Rdc 時的測量時間 [ms]
測量時間模式 測試頻率
20 Hz 100 Hz 1 kHz 10 kHz 100 kHz 1 MHz 2 MHz
SHORT 910 230 43 24 22 22 22
MED 1100 450 300 280 270 270 270
LONG 1400 820 700 670 660 650 650
每多一次平均，增加表 58 中所增加時間的三倍時間
除了顯示空白頁的情況，更新每個頁面顯示所需的時間（顯示時間）如下所示。在變更
屏幕時，會增加繪圖時間和切換時間。測量顯示大約每 100 ms 更新一次。
表 61. 顯示時間
項目 當(dāng) Vdc、 Idc
監(jiān)測關(guān)閉時
當(dāng) Vdc、 Idc
監(jiān)測開啟時
MEAS DISPLAY 頁面繪圖時間 10 ms 13 ms
MEAS DISPLAY 頁面（較大）繪圖時間 10 ms 13 ms
BIN No. DISPLAY 頁面繪圖時間 10 ms 13 ms
BIN COUNT DISPLAY 頁面繪圖時間 10 ms 13 ms
LIST SWEEP DISPLAY 頁面繪圖時間 40 ms —
測量顯示切換時間 35 ms —
測量數(shù)據(jù)傳輸時間
此表顯示了下列條件下的測量數(shù)據(jù)傳輸時間。測量數(shù)據(jù)傳輸時間因測量條件和計算機(jī)
而異。
表 62. 在下列條件下的測量傳輸時間：
主機(jī)計算機(jī)： HP Z420 工作站， Xeon CPU ES-1620 0 @3.60 GHz
顯示屏： 關(guān)閉
阻抗范圍模式： AUTO（未產(chǎn)生過載。）
開路/短路/負(fù)載補償： 關(guān)閉
測試信號電壓監(jiān)測： 關(guān)閉
表 63. 測量數(shù)據(jù)傳輸時間 [ms]
接口 數(shù)據(jù)
傳輸格式
使用 :FETC? 命令
（單點式測量）
使用數(shù)據(jù)緩沖存儲器
（列表掃描測量）
比較器開啟 比較器關(guān)閉 10 個點 51 個點 128 個點 201 個點
GPIB ASCII 2 2 4 13 28 43
ASCII Long 2 2 5 15 34 53
二進(jìn)制 2 2 4 10 21 36
USB ASCII 2 2 3 8 16 23
ASCII Long 2 2 4 9 19 28
二進(jìn)制 2 2 3 5 9 13
LAN ASCII 3 4 5 12 24 36
ASCII Long 3 3 5 13 29 44
二進(jìn)制 3 3 5 9 18 26
（1.5 V/2.0 V）：輸出電流：最大 20 mA
選件 001（電源和直流偏置增強(qiáng)）：
直流偏置電壓：應(yīng)用到被測器件上的直流偏置電壓按下式計算：
方程式 18： Vdut = Vb – 100 × Ib
Vdut [V] 直流偏置電壓
Vb [V] 直流偏置設(shè)置電壓
Ib [A] 直流偏置電流
直流偏置電流： 輸入被測器件的直流偏置電流按下式計算：
方程式 19： Idut = Vb/(100 + Rdc)
Idut [A] 直流偏置電流
Vb [V] 直流偏置設(shè)置電流
Rdc [?] 被測器件的直流電阻
最大直流偏置電流
表 64. 當(dāng)能夠進(jìn)行常規(guī)測量時的最大直流偏置電流。
阻抗范圍
[Ω]
偏置電流隔離
開啟 關(guān)閉
測試信號電壓 ≤ 2 Vrms 測試信號電壓 > 2 Vrms
0.1 自動量程模式：
100 mA
保持量程模式：
適用于此量程的值。
20 mA 100 mA
1 20 mA 100 mA
10 20 mA 100 mA
100 20 mA 100 mA
300 2 mA 100 mA
1 k 2 mA 20 mA
3 k 200 µA 20 mA
10 k 200 µA 2 mA
30 k 20 µA 2 mA
100 k 20 µA 200 µA
當(dāng)向被測器件應(yīng)用直流偏置時
當(dāng)向被測器件應(yīng)用直流偏置時，絕對精度 Ab 增加以下值
表 65. 僅當(dāng) Fm < 10 kHz 且 |Vdc| > 5 V 時
SHORT MED、 LONG
0.05% × (100 mV/Vs) × (1 + √(100/Fm)) 0.01% × (100 mV/Vs) × (1 + √(100/Fm))
Fm [Hz] 測試頻率
Vs [V] 測試信號電壓
當(dāng)直流偏置隔離設(shè)置為開啟時，開路偏置 Yo 增加以下值。
方程式 20： Yo_DCI1 × (1 + 1/(Vs)) × (1 + √(500/Fm)) + Yo_DCI2
Zm [?] 被測器件阻抗
Fm [Hz] 測試頻率
Vs [V] 測試信號電壓
Yo_DCI1,2 [S] 利用表 61 和 62 計算此值
Idc [A] 直流偏置隔離電流
表 66. Yo_DCI1 值
直流偏置電流范圍 測量時間模式
SHORT MED、 LONG
20 µA 0 S 0 S
200 µA 0.25 nS 0.05 nS
2 mA 2.5 nS 0.5 nS
20 mA 25 nS 5 nS
100 mA 250 nS 50 nS
表 67. Yo_DCI2 值
直流偏置電流
范圍
測量時間模式
≤ 100 Ω 300 Ω, 1 k Ω 3 k Ω, 10 k Ω 30 k Ω, 100 k Ω
20 µA 0 S 0 S 0 S 0 S
200 µA 0 S 0 S 0 S 0 S
2 mA 0 S 0 S 0 S 3 nS
20 mA 0 S 0 S 30 nS 30 nS
100 mA 0 S 300 nS 300 nS 300 nS
直流偏置建立時間
當(dāng)直流偏置設(shè)置為開啟時，建立時間增加以下值：
表 68. 直流偏置建立時間
偏置 建立時間
1 標(biāo)配 被測器件電容 × 100 × loge (2/1.8 m) + 3 m
2 選件 001 被測器件電容 × 100 × loge (40/1.8 m) + 3 m
1 µF 10 µF 100 µF 1 mF 10 mF 100 mF
被測器件電容
圖 建立時間
12. 直流偏置建立時間
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